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确定薄膜样品厚度

测试方法

此测试方法用于测量薄膜样品的厚度。

使用地点

样品通常是平坦的薄膜,或者是从托盘或袋子侧壁切下的平坦材料。 MOCON 没有测量弯曲(瓶壁)或非常凹凸不平样品厚度的方法。注意:在分析小批量或实验室创建的由简单结构组成的样品时,最常需要这种方法。

描述

测试方法分析样品厚度。 由于测量行为接触到样品表面,因此在进行透射率测试后,可以测量材料的厚度。 这可以最大限度地减少在气体阻隔透过率测试之前划伤或损坏样品的机会。然而,当样品在纸张上涂覆涂层时,将在传输率测试之前对其进行测试,因为材料可能会在高湿度暴露下膨胀。

  • 每次测试之前,都会测量并记录标准参考量规材料,以进行仪器验证。
  • 识别薄膜的平坦表面并测量厚度。
  • 对于每个样本,分析并记录五个点(中心和周边的四个点)。
  • 确定并报告平均厚度。
  • 详细了解我们的实验室测试服务此处

使用仪器

 
Brunswick Instrument XL-750 Digital ComparatorMitutoyo 547-500S

乐器

Brunswick Instrument XL-750 数字比较器

三丰547-500S

范围

0 - 0.03 英寸(0 - 0.76 毫米)

0- 0.47 英寸(0-12 毫米)

准确性

+/- 0.0001” (+/-2μm)

+/- 0.001” (+/-20μm)

注意:这两种仪器每年都经过 ISO 17025 校准。


下载膜厚测量说明